图书介绍
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- 汪贵华编著 著
- 出版社: 北京:国防工业出版社
- ISBN:9787118060355
- 出版时间:2009
- 标注页数:284页
- 文件大小:71MB
- 文件页数:294页
- 主题词:光电器件-高等学校-教材
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图书目录
第1章 光电导探测器1
1.1光电子器件的基本特性1
光谱响应率和响应率1
最小可探测辐射功率和探测率4
光吸收系数5
1.2光电导探测器原理7
光电导效应7
光电导电流9
光电导增益10
光电导灵敏度11
光电导惰性和响应时间11
光电导的光谱响应特性13
电压响应率15
探测率Dλ17
1.3光敏电阻18
光敏电阻的结构18
光敏电阻的特性19
第2章 结型光电探测器23
2.1光生伏特效应23
PN结23
PN结光生伏特效应25
2.2光电池26
光电池的结构26
光电池的电流与电压27
光电池的主要特性28
2.3光电二极管31
PN结型光电二极管31
PIN型光电二极管35
雪崩型光电二极管(APD)37
2.4光电三极管40
光电三极管结构和工作原理40
光电三极管的主要性能参数41
第3章 光电阴极与光电倍增管43
3.1光电发射过程43
外光电效应43
金属的光谱响应44
半导体光电发射过程44
实用光电阴极47
3.2负电子亲和势光电阴极49
负电子亲和势光电阴极的原理49
NEA光电阴极中的电子传输过程51
NEA阴极的量子产额51
负电子亲和势阴极的工艺及结构55
3.3真空光电管56
真空光电管工作原理57
真空光电管的主要特性57
3.4光电倍增管59
光电倍增管结构和工作原理60
光电倍增管主要特性和参数63
光电倍增管的供电电路69
第4章 微光像增强器72
4.1像管的基本原理和结构72
光电阴极73
电子光学系统73
荧光屏77
光学纤维面板78
4.2像管主要特性分析79
像管的光谱响应特性79
像管的增益特性83
像管的光传递特性85
像管的背景特性86
像管的传像特性87
像管的时间响应特性88
空间分辨特性88
4.3红外变像管95
玻璃管型的红外变像管95
金属型红外变像管96
4.4第一代微光像增强器97
4.5微通道板99
通道电子倍增器99
微通道板的增益特性100
电流传递特性101
微通道板的噪声102
微通道板的噪声因子103
4.6第二代微光像增强器104
近贴式MCP像增强器104
静电聚焦式MCP像增强器105
第二代微光像增强器的优点106
第二代微光像增强器的缺点106
4.7第三代微光像增强器107
4.8第四代微光像增强器109
第5章 摄像管112
5.1摄像管的工作方式112
5.2摄像管的性能指标与评定113
摄像管的灵敏度113
摄像管的光电转换114
摄像管的分辨率116
摄像管的惰性119
摄像管的灰度119
5.3氧化铅光电导视像管120
氧化铅靶结构120
视像管的结构121
视像管的工作原理122
氧化铅视像管特性123
第6章 CCD和COMS成像器件126
6.1电荷耦合器件的基本原理126
MOS结构特征126
CCD的势阱深度和存储电荷能力128
电荷耦合原理130
6.2电荷耦合器件基本结构130
转移电极结构131
转移信道结构132
通道的横向限制134
输入结构135
输出结构136
6.3 CCD的主要特性137
6.4电荷耦合成像器件139
线阵电荷耦合成像器件139
面阵电荷耦合成像器件(ACCID)141
两种面型结构成像器件的比较142
扫描方式与读出转移动作145
6.5彩色CCD成像器件147
彩色摄像器件148
数码相机151
6.6 CMOS型成像器件的像素构造152
PN结光电二极管方式153
光电门+FD方式154
掩埋型光电二极管+FD方式155
6.7 CMOS成像器件的彩色像素157
6.8 CMOS与CCD图像器件的比较158
第7章 致冷型红外成像器件164
7.1 SPRITE红外探测器164
碲镉汞的性质164
SPRITE探测器的工作原理与结构165
SPRITE探测器的响应率168
7.2红外焦平面阵列的结构和工作原理171
红外探测的原理171
红外焦平面阵列特点172
红外焦平面阵列的材料172
混合式IRFPA之倒装式结构173
混合式IRFPA之Z平面结构174
单片式阵列之PtSi肖特基势垒IRFPA175
单片式阵列之异质结探测元IRFPA179
单片式阵列之MIS像元IRFPA179
准单片式阵列结构180
7.3 IRFPA的性能参数180
光伏型红外探测器的电压响应率181
光伏型红外探测器的噪声和探测率182
光子探测器的背景辐射限制183
IRFPA的其他特性简述187
7.4红外成像器件与材料的制备190
材料制备技术190
衬底的选择与制备191
PN结的制作193
第8章 微测辐射热计红外成像器件194
8.1热探测器的基本原理194
热探测器的基本原理194
热探测器的温度噪声限制196
8.2微测辐射热计的工作原理197
微测辐射热计的工作模式197
微测辐射热计的工作原理199
8.3微测辐射热计的结构201
8.4微测辐射热计的响应率205
微测辐射热计热平衡方程205
无偏置的热平衡方程的解206
加偏置的热平衡207
V—I曲线的计算208
负载线209
带偏置的微辐射计的低频噪声211
微辐射计性能的数值计算212
8.5微测辐射热计的噪声215
辐射计的电阻噪声215
偏置电阻的噪声217
热传导引起的温度噪声218
辐射噪声218
整个电噪声219
前置放大器噪声221
8.6微辐射计信噪比221
噪声等效功率(NEP)221
噪声等效温差(NETD)222
探测率222
与理想辐射计相比较223
Johnson噪声近似224
第9章 热释电探测器和成像器件225
9.1热释电探测器的基本原理225
热释电效应225
热释电探测器特性分析227
9.2热释电材料和探测器231
热释电材料231
热释电探测器的结构形式233
热释电探测器的特点234
9.3混合型热释电成像器件的设计235
热隔离以提高温度响应235
像素间热隔离以改进MTF236
斩波器的结构236
9.4单片热释电成像器件237
热释电薄膜材料238
隔离结构238
微机械加工传感器的制作流程设计238
热释电成像器件的集成电路240
第10章 紫外探测与成像器件243
10.1紫外光的特性243
紫外光波段的划分243
大气对紫外光的吸收244
紫外辐射源245
10.2紫外成像器件概述246
10.3紫外像增强器247
10.4 GaN的性质250
10.5 GaN和GaAlN材料的生长技术252
分子束外延252
有机金属化学气相沉积253
10.6器件的制作255
10.7紫外成像器件的基本结构256
PIN结构紫外探测器257
金属/(Al)GaN肖特基势垒结构259
ITO/N-GaN肖特基势垒结构259
金属—半导体—金属(MSM)紫外探测器260
第11章 X射线探测与成像器件263
11.1 X射线的特性263
X射线的产生263
X射线透过和吸收特性264
X射线量的表征265
11.2 X射线探测与成像器件的分类266
X射线成像器件的分类266
X射线计算机断层扫描技术269
11.3 X射线成像器件系统的性能指标269
11.4 CsI/MCP反射式X射线光电阴极271
反射式X光阴极的物理过程272
反射式X光阴极的量子效率273
11.5窗材料/阴极透射式X光阴极275
窗材料/阴极透射式X光阴极物理过程275
窗材料/阴极透射式X光阴极的量子效率275
11.6 X射线像增强器276
X射线像增强器的基本结构276
近贴型X射线像增强器277
11.7 X射线影像光电二极管阵列成像器件277
11.8直接数字X射线影像器件278
动态成像的直接转换探测器的结构278
动态成像的直接转换探测器的工作原理280
直接转换成像器件的分辨本领280
动态成像的直接转换探测器的灵敏度281
参考文献283