图书介绍
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- 李思昆等著 著
- 出版社： 北京：国防工业出版社
- ISBN：7118022365
- 出版时间：2000
- 标注页数：213页
- 文件大小：13MB
- 文件页数：235页
- 主题词：
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图书目录
第1章 绪论1
1.1 引言1
1.2 数字系统并行CAD的研究意义2
1.3 数字系统并行CAD研究发展概况3
1.3.1 并行CAD专用机的研究发展3
1.3.2 并行CAD算法的研究发展4
1.3.3 并行CAD开发环境的研究发展4
1.4 数字系统设计方法论5
1.4.1 设计描述5
1.4.2 设计流程6
1.4.3 VLSI系统设计方法7
1.5 并行体系结构基本知识9
1.5.1 共享主存MIMD体系结构10
1.5.2 分布主存MIMD体系结构10
1.5.3 SIMD并行体系结构10
1.5.4 工作站集群体系结构11
1.6 并行程序设计基本知识11
1.6.1 数据并行与功能并行11
1.6.2 细粒度并行与粗粒度并行12
1.6.3 SIMD和MIMD程序设计模型12
1.6.4 共享主存MIMD程序设计基本知识13
1.6.5 分布主存MIMD程序设计基本知识14
1.6.6 SIMD程序设计基本知识16
1.7 并行算法基本知识16
1.7.1 加速比17
1.7.2 Amdehl定律17
1.7.3 负载平衡和调度18
第2章 并行逻辑综合20
2.1 引言20
2.2 二级逻辑综合20
2.2.1 二级逻辑极小化的优化目标20
2.2.2 ESPRESSO极小化算法21
2.3 共享主存的并行ESPRESSO算法23
2.3.1 COMPLEMENT(F，D)求反过程的并行化23
2.3.2 并行立方扩展25
2.3.3 REDUCE过程的并行化26
2.3.4 冗余项去除过程IRREDUNDANT()的并行化27
2.3.5 并行ESPRESSO算法27
2.4 多级逻辑综合的任务及主要方法28
2.5 基于逻辑结构划分的并行综合方式29
2.5.1 子逻辑结构划分原则30
2.5.2 基于有向图的划分方式31
2.5.3 基于无关项集合的划分32
2.5.4 基于负载平衡的划分方式32
2.5.5 分布主存的基于划分的并行综合算法33
2.6 多级逻辑综合算法的并行化35
2.6.1 基本定义35
2.6.2 MIS综合算法的逻辑变换过程36
2.6.3 MIS综合算法的并行比37
2.7 小结54
第3章 并行逻辑模拟56
3.1 概述56
3.2 功能并行模拟57
3.3 数据并行模拟57
3.4 结构划分映射方法58
3.4.1 概述58
3.4.2 利用预模拟信息的电路划分方法59
3.5 并行编译模拟方法61
3.6 同步事件驱动并行模拟方法61
3.6.1 概述61
3.6.2 共享主存MIMD并行同步事件驱动模拟算法62
3.7 异步事件驱动并行模拟方法64
3.7.1 概述64
3.7.2 保守的异步并行模拟算法68
3.7.3 分布主存优化的异步并行模拟算法69
3.7.4 共享主存优化的异步并行模拟算法71
3.8 结构并行模拟方法分析72
3.9 VHDL并行模拟74
3.9.1 概述74
3.9.2 分布主存MIMD并行VHDL模拟算法74
3.9.3 VHDL并行模拟器QuestⅡ75
第4章 并行电路模拟78
4.1 引言78
4.2 电路模拟方法78
4.2.1 电路模拟问题78
4.2.2 电路模拟的直接求解法79
4.3 并行模型求解方法82
4.3.1 概述82
4.3.2 共享主存MIMD并行算法83
4.3.3 分布主存MIMD并行算法85
4.4 基于行划分的线性方程并行求解方法86
4.4.1 概述86
4.4.2 共享主存MIMD并行算法86
4.4.3 分布主存MIMD并行算法88
4.5 非线性松弛并行电路模拟方法90
4.5.1 概述90
4.5.2 共享主存MIMD并行算法91
4.5.3 分布主存MIMD并行算法93
4.6 波形松弛并行电路模拟方法95
4.6.1 概述95
4.6.2 共享主存MIMD并行算法97
4.6.3 分布主存MIMD并行算法98
4.7 小结100
第5章 并行测试生成102
5.1 串行测试生成算法102
5.1.1 组合电路串行测试生成算法102
5.1.2 时序电路串行测试生成算法107
5.1.3 降低自动测试生成(ATPG)时间复杂性的对策111
5.2 并行测试生成理论概述113
5.2.1 基于故障诊断目标划分的并行测试生成方法113
5.2.2 基于ATPG过程分解的并行测试生成方法115
5.2.3 ATPG算法并行化的困难117
5.3 故障并行测试生成算法119
5.3.1 关于故障并行的加速比119
5.3.2 三种故障划分方法120
5.3.3 实验结果及结论123
5.4 电路并行测试生成算法124
5.4.1 适于电路输出扇入锥划分的递归最小二分法124
5.4.2 基于大功能块划分的并行算法128
5.5 搜索空间并行ATPG算法130
5.5.1 基于PODEM算法的搜索空间并行算法130
5.5.2 基于G-F二值算法的搜索空间并行131
第6章 并行故障模拟134
6.1 经典故障模拟方法概述134
6.1.1 字并行故障模拟134
6.1.2 演绎故障模拟136
6.1.3 同时故障模拟137
6.2 经典故障模拟方法的可并行性分析138
6.2.1 可能的基本并行模式138
6.2.2 ATPG与FS紧耦合系统138
6.2.3 ATPG与FS松耦合系统139
6.3 基于故障并行的故障模拟算法139
6.3.1 故障分类和划分方法139
6.3.2 分布主存和共享主存MIMD并行故障模拟算法140
6.4 测试模式并行的故障模拟算法141
6.4.1 组合电路的测试模式并行141
6.4.2 时序电路的测试模式并行143
6.5 电路并行的故障模拟算法143
6.5.1 概述143
6.5.2 分布主存MIMD并行算法143
6.5.3 共享主存MIMD并行算法145
6.5.4 输出锥并行的故障模拟方法146
6.5.5 大功能块并行的故障模拟方法146
6.6 结论与展望147
6.6.1 关于测试生成的并行化147
6.6.2 关于故障模拟的并行化148
6.6.3 展望148
第7章 并行布局150
7.1 概述150
7.1.1 布局问题150
7.1.2 串行布局方法151
7.1.3 布局代价函数151
7.1.4 定时驱动布局152
7.1.5 并行布局方法153
7.2 模拟退火并行布局算法155
7.2.1 模拟退火法布局原理155
7.2.2 模拟退火布局算法的并行方法156
7.2.3 共享主存MIMD并行模拟退火布局算法157
7.2.4 分布主存MIMD并行模拟退火布局算法162
7.3 遗传并行布局算法164
7.3.1 遗传布局原理164
7.3.2 分布主存MIMD并行遗传布局算法165
7.3.3 共享主存MIMD并行遗传布局算法166
7.4 并行分级布局算法167
7.4.1 分级布局原理167
7.4.2 共享主存MIMD并行分级布局算法167
7.4.3 分布主存MIMD并行分级布局算法169
7.5 并行版图规划170
7.5.1 概述170
7.5.2 模拟退火并行版图规划算法171
7.5.3 遗传并行版图规划算法173
7.5.4 分枝限界并行版图规划算法175
7.6 小结178
第8章 并行布线与并行版图验证179
8.1 引言179
8.1.1 两点间布线179
8.1.2 总体布线179
8.1.3 通道布线180
8.1.4 版图验证181
8.2 并行迷路布线算法181
8.2.1 基本思想181
8.2.2 分布主存的MIMD并行算法182
8.2.3 共享主存MIMD并行算法184
8.3 通道并行布线185
8.3.1 贪婪法185
8.3.2 共享主存MIMD并行算法185
8.3.3 共享主存MIMD开关盒并行布线迭代改善法187
8.4 总体布线并行迭代法188
8.4.1 基本思想188
8.4.2 共享主存MIMD并行算法189
8.4.3 分布主存MIMD并行算法191
8.5 几何设计规则检验192
8.5.1 基本算法192
8.5.2 分布主存MIMD并行算法193
8.5.3 共享主存MIMD并行算法194
8.6 并行网表提取194
8.6.1 问题描述194
8.6.2 分布主存MIMD并行算法195
8.6.3 共享主存MIMD并行算法196
8.7 并行参数提取197
8.7.1 问题描述197
8.7.2 分布主存MIMD并行算法198
8.7.3 共享主存MIMD并行算法201
8.8 总结与展望201
8.8.1 并行布线策略202
8.8.2 并行版图验证策略202
8.8.3 今后的研究方向203
第9章 并行CAD研究发展方向204
9.1 数字系统并行CAD技术发展的主要问题204
9.2 并行CAD算法的可移植性研究进展205
9.2.1 PVM和MPI205
9.2.2 Proper CAD系统206
9.2.3 几种方法的比较207
9.3 并行CAD未来发展208
参考文献209