图书介绍
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- 高新华，宋武元，邓赛文，胡坚编著 著
- 出版社： 北京：化学工业出版社
- ISBN：9787122279590
- 出版时间：2017
- 标注页数：365页
- 文件大小：149MB
- 文件页数：379页
- 主题词：X射线荧光光谱法－荧光分析
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图书目录
第1章 X射线的物理基础1
1.1 X射线的定义1
1.2 X射线光谱2
1.2.1 连续X射线光谱2
1.2.2 原子结构及轨道能级4
1.2.3 特征X射线光谱7
1.2.4 莫塞莱定律8
1.2.5 特征X射线光谱强度间的相对关系9
1.3 俄歇效应：伴线10
1.4 荧光效应：荧光产额11
参考文献12
第2章 X射线的基本性质13
2.1 X射线的散射13
2.1.1 相干散射14
2.1.2 康普顿散射15
2.2 X射线的衍射与偏转17
2.2.1 布拉格衍射原理17
2.2.2 X射线的偏转19
2.2.3 镜面反射20
2.2.4 全反射20
2.3 X射线的吸收21
2.3.1 质量吸收或衰减系数22
2.3.2 质量吸收或衰减系数与波长及原子序数的关系23
2.3.3 吸收限及临界厚度23
2.3.4 反平方定律25
参考文献26
第3章 X射线的激发27
3.1 初级激发27
3.2 次级激发28
3.2.1 单色激发28
3.2.2 多色激发29
3.3 互致激发（次生激发）31
3.4 激发源32
3.4.1 放射性同位素33
3.4.2 同步辐射光源35
3.4.3 X射线管36
3.4.4 二次靶38
参考文献39
第4章 X射线的色散40
4.1 概述40
4.2 波长色散40
4.3 能量色散42
4.4 非色散44
参考文献47
第5章 X射线的探测48
5.1 概述48
5.2 气体正比型探测器49
5.3 探测器的光电转换参数55
5.4 闪烁计数器58
5.5 固体探测器59
5.5.1 锂漂移硅［Si（Li）］探测器60
5.5.2 珀尔贴（Peltier）效应62
5.5.3 Si-PIN探测器63
5.5.4 硅漂移探测器（SDD）64
5.5.5 高纯锗（Ge）探测器64
5.6 探测效率及能量分辨率65
5.6.1 量子计数效率65
5.6.2 能量分辨率67
5.7 各种常用探测器的比较70
参考文献71
第6章 X射线的测量73
6.1 测量系统73
6.1.1 概述73
6.1.2 前置放大器74
6.1.3 主放大器74
6.1.4 脉冲高度选择器75
6.1.5 脉冲高度分布曲线77
6.1.6 多道脉冲分析器（MCA）79
6.1.7 脉冲高度分布的自动选择81
6.1.8 定标器及定时器82
6.1.9 微处理机82
6.2 测量方法82
6.2.1 定时计数（FT）法83
6.2.2 定数计时（FC）法83
6.2.3 最佳定时计数（FTO）法84
参考文献85
第7章 波长色散X射线荧光光谱仪86
7.1 概述86
7.2 波长色散光谱仪的基本结构86
7.2.1 X光管87
7.2.2 准直器91
7.2.3 辐射光路92
7.2.4 分光晶体93
7.2.5 平面晶体色散装置98
7.2.6 弯曲晶体色散装置99
7.2.7 测角仪101
7.3 探测器102
7.4 脉冲高度分布及脉冲高度分析器103
7.5 定标计数电路105
7.6 测量参数的选择106
参考文献109
第8章 能量色散X射线荧光光谱仪110
8.1 概述110
8.2 光谱仪结构111
8.2.1 能量色散探测器112
8.2.2 多道脉冲高度分析器114
8.2.3 滤光片及其选择117
8.2.4 X光管120
8.3 通用型能量色散光谱仪120
8.4 三维光学能量色散光谱仪122
8.4.1 偏振原理123
8.4.2 二次靶124
8.5 谱处理技术127
8.5.1 光谱数据的基本组成128
8.5.2 谱处理的基本步骤133
8.5.3 常用的谱处理方法135
8.6 能量色散X射线荧光分析技术的特殊应用147
8.6.1 全反射X射线荧光光谱分析（TXRF）147
8.6.2 同步辐射X射线荧光光谱分析（SRXRF）152
8.6.3 微束X射线荧光光谱分析（μ-XRF）153
参考文献159
第9章 基体效应161
9.1 概述161
9.2 基体效应162
9.2.1 吸收-增强效应162
9.2.2 吸收-增强效应对校准曲线的影响164
9.2.3 吸收-增强效应的预测164
9.3 物理-化学效应166
9.3.1 颗粒度、均匀性及表面结构影响166
9.3.2 样品的化学态效应170
9.3.3 样品的无限厚度与分析线波长的关系171
参考文献174
第10章 光谱背景和谱线重叠175
10.1 光谱背景175
10.2 光谱背景的起源与性质176
10.2.1 光谱背景的测量与校正176
10.2.2 降低背景的若干方法180
10.3 光谱干扰的来源181
10.3.1 光谱干扰的类别181
10.3.2 消除干扰的方法183
10.4 灵敏度S189
10.4.1 检测下限189
10.4.2 定量下限190
参考文献191
第11章 定性与半定量分析192
11.1 概述192
11.2 光谱的采集与记录194
11.3 谱峰的识别与定性分析198
11.3.1 谱峰的平滑198
11.3.2 谱峰的检索199
11.3.3 谱峰的识别（匹配）200
11.3.4 元素标注202
11.4 半定量分析202
参考文献208
第12章 定量分析——实验校正法210
12.1 概述210
12.2 标准校准法210
12.3 加入内标校准法211
12.4 散射内标法215
12.4.1 散射背景比例法215
12.4.2 散射靶线比例法216
12.5 二元比例法218
12.6 基体-稀释法219
12.7 薄膜法（薄试样法）220
参考文献221
第13章 定量分析——数学校正法223
13.1 概述223
13.2 数学校正法223
13.2.1 经验系数法223
13.2.2 理论影响系数法228
13.2.3 基本参数法229
13.3 X射线荧光理论强度的计算232
参考文献241
第14章 样品制备243
14.1 概述243
14.2 固体样品的制备243
14.3 粉末试样的制备246
14.3.1 松散粉末的制备248
14.3.2 粉末压片248
14.4 熔融法250
14.4.1 经典熔融法252
14.4.2 熔融设备257
14.4.3 离心浇铸重熔技术259
14.5 液体试样的制备261
14.5.1 溶液法261
14.5.2 离子交换法262
参考文献263
第15章 应用实例264
15.1 痕量元素分析264
15.1.1 概述264
15.1.2 背景及光谱重叠的校正方法264
15.1.3 基体影响的校正268
15.1.4 校准曲线270
15.2 宽范围氧化物分析272
15.2.1 概述272
15.2.2 方法要点272
15.2.3 合成标准的配制273
15.2.4 样品制备273
15.2.5 分析测量条件274
15.2.6 方法验证275
15.3 油类分析277
15.3.1 概述277
15.3.2 方法要点277
15.3.3 结论280
15.4 钢铁与合金分析281
15.4.1 概述281
15.4.2 方法要点282
15.4.3 分析测量参数283
15.4.4 方法准确度的验证284
15.5 痕量元素的能量色散X射线荧光光谱分析285
15.5.1 概述285
15.5.2 仪器及实验条件285
15.5.3 方法要点285
15.6 高能激发能量色散X射线荧光光谱分析287
15.6.1 概述287
15.6.2 方法要点288
15.6.3 仪器及测量条件289
15.6.4 样品制备290
15.6.5 校准的准确度290
参考文献292
第16章 薄膜和镀层厚度的测定294
16.1 概述294
16.2 薄膜及样品无限厚度的定义294
16.3 薄膜厚度测定的基本方法297
16.3.1 薄膜（镀层）发射法297
16.3.2 基底线吸收法298
16.3.3 理论校准法299
16.3.4 测定多层薄膜的基本参数法301
16.4 应用实例303
16.4.1 镀锌板镀锌层质量厚度的测定303
16.4.2 彩涂板镀层厚度及铝锌含量的测定304
16.4.3 镀锡板的镀锡层厚度测定304
16.4.4 硅钢片绝缘层厚度测定305
参考文献307
第17章 分析误差与不确定度308
17.1 概述308
17.2 数值分析中的若干基本概念308
17.2.1 真值与平均值308
17.2.2 精密度和准确度310
17.2.3 分析误差310
17.2.4 分布函数311
17.2.5 计数统计学与测量误差314
17.3 误差来源及统计处理316
17.3.1 强度计数的标准偏差317
17.3.2 最佳计数时间的选择318
17.3.3 提高精密度与准确度的基本措施318
17.4 不确定度及计算319
17.4.1 测量不确定度319
17.4.2 统计不确定度320
17.4.3 误差传递与不确定度320
17.4.4 不确定度的计算321
17.4.5 平均值不确定度的计算321
17.4.6 统计波动322
17.5 最小二乘法的统计学原理322
17.5.1 线性最小二乘法拟合323
17.5.2 多元线性拟合325
17.5.3 多项式拟合325
17.5.4 非线性最小二乘法拟合326
参考文献328
附录330
1 分析误差允许范围330
2 常用元素化合物的换算系数表337
3 元素名称、符号、原子序数及相对原子质量数据表342
4 K、L、M系激发电位（kV）／结合能（keV）343
5 K、L、M系吸收限波长346
6 K、L系主要谱线的光子能量348
7 K、L、M系平均荧光产额350
8 K和LⅢ吸收限陡变比（r）及（r—1）／r值352
9 K系主要谱线的波长353
10 L系主要谱线的波长356
11 M系主要谱线的波长360
12 M系主要谱线的光子能量361
索引364