图书介绍
片上系统 可重用设计方法学 第3版PDF|Epub|txt|kindle电子书版本网盘下载
- （美）Michael Keating，（美）Pierre Bricaud著；沈戈等译 著
- 出版社： 北京：电子工业出版社
- ISBN：7505393383
- 出版时间：2004
- 标注页数：226页
- 文件大小：12MB
- 文件页数：241页
- 主题词：芯片－设计－教材
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图书目录
第1章 引言1
1.1 本书的目标1
1.2 可重用设计中的挑战4
1.3 可重用设计方法所带来的新商业模式5
第2章 片上系统设计过程8
2.1 SoC设计范例8
2.2 系统设计流程9
2.3 规范的制定14
2.4 系统设计过程16
第3章 系统级设计问题：规则和工具20
3.1 标准模型20
3.2 时序收敛设计：逻辑设计问题24
3.3 时序收敛设计：物理设计问题31
3.4 可验证设计：验证策略33
3.5 系统内部互连和片上总线34
3.6 可启动和可调试设计：片上调试结构41
3.7 低功耗设计42
3.8 可测性设计：生产测试策略47
3.9 可重用的必要条件48
第4章 核设计过程52
4.1 IP设计概述52
4.2 关键特征56
4.3 规划和制定规范56
4.4 核设计和验证60
4.5 软核生产64
第5章 RTL编码指南68
5.1 编码指南概述68
5.2 基本编码方法68
5.3 可移植性编码80
5.4 时钟和Reset信号设计指南84
5.5 可综合性编码90
5.6 可综合划分102
5.7 带有存储器的设计110
5.8 代码分析110
第6章 IP核综合指南111
6.1 综合问题概述111
6.2 IP核综合策略112
6.3 物理综合117
6.4 RAM和数据通路产生器118
6.5 综合脚本编码指南122
第7章 IP核验证指南124
7.1 IP核验证概述124
7.2 检查的重要性129
7.3 反向测试130
7.4 测试平台的设计131
7.5 验证模块的设计137
7.6 达到100％覆盖率140
7.7 时序验证144
第8章 硬核的设计方法145
8.1 概述145
8.2 硬核设计中存在的问题147
8.3 硬核设计流程153
8.4 硬核的设计154
8.5 硬核的模型建立156
8.6 硬核的移植165
第9章 IP核的配置：针对可重用设计的封装166
9.1 完整产品的交付166
9.2 用户指南171
第10章 可重用IP核的系统集成173
10.1 集成概述173
10.2 片上系统设计中IP核的集成173
10.3 IP核的选择176
10.4 存储器的集成178
10.5 物理设计178
第11章 系统级验证191
11.1 验证的重要性191
11.2 验证方案192
11.3 接口验证192
11.4 功能验证195
11.5 随机测试198
11.6 基于应用程序的验证199
11.7 门级验证203
11.8 针对系统验证的特殊硬件设备205
第12章 数据和项目管理212
12.1 数据管理212
12.2 项目管理215
第13章 可重用SoC设计实例217
13.1 阿尔卡特公司217
13.2 Atmel218
13.3 英飞凌科技220
13.4 LSI Logic公司221
13.5 Philips Semiconductor223
13.6 意法半导体224
13.7 结束语226