图书介绍
元器件和半导体领域专利审查案例评析PDF|Epub|txt|kindle电子书版本网盘下载
- 李永红主编 著
- 出版社： 北京：知识产权出版社
- ISBN：9787513021029
- 出版时间：2013
- 标注页数：124页
- 文件大小：22MB
- 文件页数：131页
- 主题词：元器件－专利－审查－案例－中国；半导体－专利－审查－案例－中国
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图书目录
第一章 检索1
第一节 全面检索1
1.1.1对有检索报告的PCT申请的充分检索2
1.1.2补充检索的时机把握8
第二节 检索技巧15
1.2.1复杂数值范围的检索15
1.2.2具有形貌特征的权利要求的检索21
1.2.3检索过程中关键词的扩展27
1.2.3.1效果性限定27
1.2.3.2功能性限定32
第二章 实体审查38
第一节 把握立法宗旨，正确适用法律条款38
第二节 理解发明实质，准确判断申请45
2.2.1新颖性审查45
2.2.2创造性审查46
2.2.2.1创造性评述时“三步法”的使用47
2.2.2.2通过合乎逻辑的分析、推理或有限试验得出数值限定的判断49
2.2.2.3公知常识在创造性判断中的应用57
2.2.3针对申请人意见陈述的审查66
2.2.3.1准确判断申请人意见的合理性66
2.2.3.2适当的评述方式提高沟通效率73
第三节 合理使用证据，提升通知书说服力79
2.3.1对比文件证据的使用80
2.3.1.1权利要求中的并列技术方案分别采用不同的对比文件评述80
2.3.1.2独立权利要求与从属权利要求分别采用不同的对比文件评述86
2.3.1.3两组从属权利要求分别采用不同的对比文件评述89
2.3.2公知常识证据的使用95
2.3.2.1首次审查意见提供公知常识证据95
2.3.2.2后续审查中提供公知常识证据96
2.3.2.3公知常识认定存在异议时的替代证据103
第三章 其他106
第一节 缺乏必要技术特征106
第二节 优先权核实109
第三节 公开不充分116
3.3.1半导体制造方法公开不充分117
3.3.2显示器装置公开不充分120