图书介绍
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- 武晔卿，李东伟，石小兵著 著
- 出版社： 北京：电子工业出版社
- ISBN：9787121343711
- 出版时间：2018
- 标注页数：225页
- 文件大小：31MB
- 文件页数：237页
- 主题词：电路设计－工程计算
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图书目录
第1章 电子工程数学基础1
1.1 基础代数应用1
1.2 三角函数应用2
1.3 微积分应用3
1.4 复变函数9
1.4.1 拉氏变换10
1.4.2 Z变换11
1.5 泰勒级数12
1.6 傅里叶级数与傅里叶变换12
1.6.1 傅里叶级数14
1.6.2 傅里叶变换14
1.6.3 傅里叶变换与工程应用15
1.7 统计过程控制与正态分布15
1.8 PID控制数学基础20
1.9 电路设计机理25
1.9.1 电子工程数学应用机理25
1.9.2 工程设计判据30
第2章 系统设计通用计算技术32
2.1 应力计算34
2.1.1 过渡过程应力34
2.1.2 温度应力36
2.1.3 基础元器件隐含特性分析37
2.2 降额43
2.2.1 降额总则44
2.2.2 电阻降额46
2.2.3 电容降额50
2.2.4 集成电路降额52
2.2.5 分立半导体元件降额57
2.2.6 电感降额60
2.2.7 继电器降额61
2.2.8 开关降额62
2.2.9 功率开关元器件降额63
2.2.10 连接器降额63
2.2.11 导线与电缆降额64
2.2.12 保险丝降额65
2.2.13 晶体降额65
2.2.14 电机降额66
2.2.15 降额设计补充规范与案例66
2.3 热设计计算67
2.3.1 传导散热计算69
2.3.2 风冷对流散热计算72
2.4 精度分配74
2.4.1 最坏电路情况分析法74
2.4.2 偏微分法75
2.5 可靠性量化评估77
2.5.1 MTBF理论基础77
2.5.2 可靠性串／并联模型79
2.5.3 可靠度评估公式81
2.6 阻抗匹配82
2.6.1 放大电路阻抗匹配83
2.6.2 功率驱动电路阻抗匹配86
2.6.3 高频电路阻抗匹配87
2.7 蒙特卡罗分析方法90
2.7.1 概述90
2.7.2 设计分析案例91
第3章 分立元器件应用计算95
3.1 电阻96
3.1.1 放大电路电阻选型计算97
3.1.2 上拉电阻选型计算100
3.1.3 电阻耐压选型102
3.1.4 电阻功率计算103
3.1.5 电阻串／并联使用计算104
3.1.6 0Ω电阻的应用105
3.2 电容106
3.2.1 电容的参数指标107
3.2.2 储能电容应用计算115
3.2.3 退耦滤波电容选型计算117
3.2.4 运算电容选型计算119
3.2.5 隔离电容选型计算120
3.3 电感120
3.4 磁珠126
3.5 插头插座127
3.6 导线128
3.6.1 金属线缆128
3.6.2 PCB布线132
3.7 保险丝133
3.8 TVS137
3.9 压敏电阻140
3.10 气体放电管144
3.11 散热片145
3.12 风扇147
3.13 晶体振荡器149
3.14 二极管151
第4章 集成元器件应用计算154
4.1 数字IC154
4.2 A／D转换器159
4.2.1 ADC选型参数159
4.2.2 ADC软件运算精度165
4.2.3 ADC抗干扰措施166
4.3 运算放大器167
4.3.1 运算放大器参数指标分析169
4.3.2 单端输入运算放大电路计算177
4.3.3 双端差分输入运算放大电路计算181
4.3.4 集成运放技巧184
4.4 电源滤波器188
4.5 传感器192
4.6 LDO电源模块194
4.7 功率开关管195
4.7.1 功率开关管失效机理195
4.7.2 功率开关管防护设计196
4.8 软件计算199
第5章 电子产品统计过程控制（SPC）201
5.1 选点及数据采集203
5.1.1 选点203
5.1.2 数据采集203
5.2 控制图的制作204
5.2.1 直方图的制作204
5.2.2 均值极差图制作206
5.2.3 均值标准差图的制作207
5.2.4 不合格品数np图的制作208
5.2.5 不合格品数c图的制作208
5.3 过程能力指数的计算209
5.3.1 过程能力指数的计算209
5.3.2 提高过程能力指数的方法210
5.4 统计控制状态210
附录A 过程能力指数与不合格率的关系表214
附录B 过程能力指数Cp值的评价参考表215
附录C SPC统计过程控制实例216
C.1 设备验收测试数据统计分析质控方法216
C.2 结论223