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第一章 物质结构分析底晶体学基础1

A．空间点阵理论初步1

1．空间点阵底描述1

а）空间点阵底观念1

б）点阵直线2

в）点阵平面．点阵平面族底指标3

г）倒易矢量4

д）结构晶体学底几个公式7

е）选择初基矢量组或点阵坐标轴的种种方法10

2．空间底线性变换18

а）平行移动（平移）18

б）围绕某定轴的转动18

в）反演20

г）在平面上的反射21

д）线性变换底一般情形23

3．对称变换27

а）对于点阵可能施行的闭合对称变换27

б）转动轴与反演轴28

4．点群或共群点集32

а）同类对称轴之间可能的夹角32

б）包含转动轴的11种点群35

В）32种点群38

г）点群底描述39

5．晶系48

6．平移群52

а）引言52

б）平移群概观53

а）第四指标63

7．描述六角系与三角系晶体时的几点注意63

б）选择六角坐标轴的两种方法．C-坐标系与H-坐标系65

в）三角坐标系与六角坐标系之间的关系67

8．开放对称运用70

а）螺旋轴与滑动平面70

б）点阵中对称素互相配列情况底一般考察．对称类型74

в）平行移动与其他对称素76

9．被点阵底对称素所造成的变换78

а）点底坐标变换78

б）新对称素底产生82

в）对称素底配列情况与平移群83

10．空间群84

а）C2h型空间群概观84

б）空间群底命名法90

в）点底位置101

г）共群点集底对称性与数目103

Д）子群104

B．几何晶体学初步104

1．晶体学底实验定律104

а）晶面底平坦性与晶棱底直线性定律105

б）晶面角恒定定律105

в）有理交截定律106

г）晶带定律108

д）晶面成长定律108

е）对称定律109

ж）晶体底均质性与各向异性定律109

2．晶体底外观与简面式109

3．晶体学的投影法118

а）直线投影法118

в）极射赤面投影法119

б）心射切面投影法119

г）极象投影法121

4．乌耳夫纲121

5．用测角计的晶体研究130

6．根据测角计的测量结果所作的进一步的工作136

а）晶体底计算136

б）晶体绘图139

7．费道罗夫底工作．晶体化学分析141

а）平行多面体理论141

б）费道罗夫底晶形有界定律142

в）晶体化学分析144

第二章 X射线底产生及其与物质的相互作用145

1．X射线管145

а）一般介绍．X射线谱底分解．波长底测定150

2．X射线谱150

б）连续X射线谱156

в）标识X射线谱159

3．X射线与物质相互作用底一般绘景161

4．衰减（吸收）系数165

а）衰减系数底计算165

б）衰减系数底测定168

в）吸收系数与波长及原子序数之间的关系168

г）滤光箔171

5．X射线底照相效应与根据照片的黑度测量X射线强度的方法172

а）X射线底照相效应172

б）强度底目测决定法175

в）X射线照相的光度测量176

г）敏化屏178

6．X射线底电离效应及强度测量底电离法179

1．X射线被晶体所衍射后的方向185

第三章 X射线在晶体中的衍射185

2．电子所引起的X射线散射191

3．原子因数196

а）原子因数与电子底分布情况196

б）对于自由原子的原子因数计算201

в）温度改正204

4．结构因数205

а）基本公式205

б）结构因数公式底特殊情形210

5．“小”晶体对于X射线的散射（吸收与消光不存在的情形）213

а）强度最大值底产生条件及数值213

б）强度最大值底宽度218

в）计算时被略去的因素（吸收、消光）219

г）在倒易点阵中的一些表示方法220

6．强度底资用公式223

а）劳厄法224

б）周转晶体法227

в）“粉末”法231

7．吸收底计算235

а）X射线束底截面积比晶体底截面积小的情形235

б）X射线束底截面积比晶体底截面积大的情形238

8．消光（次级的）底计算245

9．理想晶体．初级消光249

а）理想晶体底累积反射250

б）初级消光底计算．理想嵌镶结构底条件252

10．热振动底影响253

11．温度因数257

12．热漫射底最大值262

а）基本事实262

б）热波263

в）在热波上发生衍射的几何条件268

г）漫射最大位置底花样与结构之间的关系273

第四章 单晶底X射线照相法及照相底计算法277

1．引言277

2．劳厄法278

а）方法底大意278

б）干涉花样底几何学．晶带曲线．劳厄照相底心射切面投影281

в）劳厄照相上斑点指标底决定（指标化）285

г）晶体取向底求得与调准288

д）关于X射线照相底对称性的几点注意294

е）劳厄照相底对称性295

ж）星芒299

з）倒易点阵中阵点形状底研究303

а）方法底大意．层线．沿转动轴的恒同距离底测定305

3．周转晶体法与振动晶体法305

б）干涉曲线311

в）振动晶体照相底指标化317

4．实验时的注意323

а）照相机323

б）X射线谱与样品底选择328

5．根据振动晶体照相与周转晶体照相精确决定恒同距离的方法330

6．用圆筒形软片的X射线测角计332

а）一般介绍．分类332

б）圆筒形测角计（正射照相法）334

в）用等倾法摄得的X射线照相及其诠释342

7．用平的软片的X射线测角计347

а）倒易点阵照相法347

б）圆形测角计355

8．X射线摄谱仪358

1．引言362

第五章 不计及衍射强度的结构分析362

А．密堆积理论362

2．晶体底拓扑学特征363

а）分类363

б）原子半径与分子间半径365

в）配位数367

3．最密球体堆积底理论378

а）堆积底对称性378

б）球体堆积中的空隙382

в）离子性晶体底构成规则385

г）应用范围386

4．分子密堆积理论386

Б．晶胞大小与对称性底决定，以及由此可以推出的结论393

1．晶胞大小与平移群底决定393

а）堆积系数底计算401

2．晶胞底大小及关于晶体结构的结论401

б）同等晶胞与相似晶胞410

в）分子量与密度底决定412

3．空间群底决定413

4．空间群、原子和分子在晶胞中的配列情况底对称性及化学式433

В．几何分析437

1．将原子配列到晶胞中时考虑到它们的有限大小437

2．根据密堆积理论将离子性晶体进行几何分析439

3．分子式晶体底几何分析440

第六章 计及衍射强度的结构分析445

1．各种可能的结构模型与实验的比较445

а）累积反射底测量与F测定底计算445

б）结构模型底“试验”．尝试法447

а）一般情形下的级数式．方法底应用范围451

2．电子密度级数法451

б）三维级数及其截面图454

в）电子密度级数底投影459

3．计算二维传里叶级数的技术461

4．二维电子密度级数底对称性470

а）有心对称的平面群470

б）级数底对称性487

5．F-级数底准确度及其应用底可能性489

а）关于分子结构的结论490

б）f-曲线与原子函数．将级数截断对于原子函数的影响492

6．电子密度级数底误差501

а）电子密度底数值501

б）最大位置坐标底数值503

в）电子密度级数底分辨率508

а）基本公式510

7．原子间矢量级数——F2-级数510

б）F2-级数底几种特殊情形513

8．F2-级数底投影底分析517

9．根据F观测与F计算接近至最高程度的概念修正结构的方法525

10．根据关于Fhkl数值的已知资料决定其正负号527

11．结构分析中计算底自动化534

第七章 多晶物质底研究539

1．研究底实质与目的539

2．研究多晶物质的一般方法541

а）X射线照相底式样541

б）指标底决定（指标化）543

в）平面间距测定底准确度及其提高的方法545

3．物相分析550

а）一般介绍550

б）根据X射线照相的化学分析552

4．聚焦照相法555

а）聚焦原理与照相机概述555

б）相图底决定558

в）钢底热处理底检查560

5．织构底研究561

а）研究方法底实质561

б）根据X射线照相画出极象图562

в）平面照相机与轴向照相机563

г）织构照相机564

6．根据X射线照相决定晶粒大小566

7．应力测定574

8．决定晶体中物质密度底径向分布情况579

б）气态物质底结构分析581

а）引言581

9．气体、液体及无定形物质底结构分析581

в）单原子液体底结构分析584

10．研究具有无序素的与具有超结构的点阵结构587

11．纤维类物质结构底研究589

第八章 X射线晶体结构分析举例592

1．根据粉末照相研究结构．立方系晶体Zn(CN)2593

2．决定氯化甲基汞CH3HgCl与氯化乙基汞C2H5HgCl底结构595

3．根据密堆积理论研究碳化硅底结构601

4．碳化硼结构底研究603

5．用几何方法对有机化合物进行的定量结构分析（2,6-二苯基萘）609

6．用F2-级数法研究C2H2HgClBr底结构612

7．“球状”蛋白质底晶体结构615

人名对照表624

名词对照表626