图书介绍
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- 陆家和，陈长彦等编著 著
- 出版社： 北京：电子工业出版社
- ISBN：15290·468
- 出版时间：1987
- 标注页数：486页
- 文件大小：25MB
- 文件页数：499页
- 主题词：
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图书目录
第一章 绪论1
第二章 晶体结构和X射线衍射原理15
第三章 低能电子衍射（LEED）和反射式高能电子衍射（RHEED）27
第四章 场电子显微镜（FEM）和场离子显微镜（FIM）84
第五章 能量分析器132
第六章 俄歇电子能谱（AES）174
第七章 X射线光电子谱（XPS）213
第八章 紫外光电子谱（UPS）258
第九章 离子散射谱（ISS）296
第十章 次级离子质谱（SIMS）320
第十一章 离子中和谱与脱附谱376
第十二章 电子能量损失谱419
附录Ⅰ锁定放大器465
附录Ⅱ用脉冲计数方法测量微弱电流480
附录Ⅲ常用表面分析方法英文全名486