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绪论1

第一篇 X射线及其基本性质11

第一章 X射线11

1.1 X射线的发现和实质11

1.2 X射线的波粒二象性13

1.3 X射线的度量单位15

第二章 原子结构17

2.1 光谱系和氢原子结构的经典理论17

2.2 玻尔原子20

2.3 多电子原子23

第三章 X射线能量和分支比29

3.1 壳层电子的跃迁29

3.2 莫塞莱（H.G.J.Moseley）定律33

3.3 俄歇（P.Auger）效应和荧光产额35

第四章 X射线与物质相互作用39

4.1 电磁辐射与物质相互作用的一般特点39

4.2 光电效应41

4.3 康普顿（A.Compton）散射效应44

4.4 X射线在物质中的吸收48

第二篇 X射线荧光方法基础55

第五章 X射线的激发55

5.1 激发方式概述55

5.2 电子激发57

5.3 质子激发58

5.4 电磁辐射激发60

5.5 X射线管61

5.6 同步辐射光子源68

5.7 放射性核素激发源（放射源）70

5.8 激发效率77

第六章 X射线的探测79

6.1 能量色散X射线荧光探测仪器的一般要求79

6.2 X射线探测器的特点81

6.3 X射线探测器的主要技术指标83

6.4 正比计数器85

6.5 闪烁计数器94

6.6 探测器的组合使用108

6.7 半导体探测器109

6.8 几种探测器的比较125

第七章 滤片130

7.1 滤片工作原理130

7.2 平衡滤光片对的物质成分选择133

7.3 滤片厚度的理论计算133

7.4 滤片制作工艺简述135

7.5 滤片平衡性的测定和调整135

第八章 X射线计数率的基本公式137

8.1 推导基本公式的假定137

8.2 纯元素试样的X射线荧光计数率公式138

8.3 多元素试样的X射线荧光计数率公式141

8.4 透射式激发的X射线荧光计数率公式142

8.5 散射射线计数率的基本公式143

第九章 波长色散X射线荧光测量方法概述145

9.1 波长色散方法的特点145

9.2 X射线光谱仪145

9.3 布拉格定律146

9.4 分析晶体147

9.5 波长色散X荧光光谱方法的主要性能149

9.6 双晶X射线荧光光谱测量151

第十章 数理统计概念153

10.1 误差及其表示方法153

10.2 数理统计中的常用术语155

10.3 数理统计基本知识161

10.4 误差分析178

第三篇 能量色散X射线荧光方法的实际工作182

第十一章 仪器工作状态调整和性能测试182

11.1 仪器的优化组合182

11.2 仪器工作状态的选择185

11.3 仪器稳定性检验187

第十二章 样品及其制备191

12.1 样品的基本概念191

12.2 试样制备方法194

第十三章 测试技术204

13.1 探测装置的几何布置204

13.2 测试方法208

第四篇 能量色散X射线荧光方法的定性定量分析212

第十四章 X射线的仪器谱212

14.1 X射线仪器谱的形态212

14.2 其他干扰谱线217

14.3 谱峰面积或计数率的计算218

14.4 X射线谱的分解220

第十五章 定性分析225

15.1 能量刻度225

15.2 元素识别227

15.3 定性分析的干扰因素228

第十六章 定量分析230

16.1 方法概述230

16.2 基体效应232

第五篇 基体效应校正方法240

第十七章 实验校正方法240

17.1 经验分类法240

17.2 稀释法243

17.3 内标法和增量法245

第十八章 参比校正方法249

18.1 单滤片法和补偿法249

18.2 特征X射线与散射射线计数率比值法252

18.3 补偿-特散比法255

18.4 散射射线计数率法257

18.5 二元比例法261

18.6 计数率参比标准法262

第十九章 数学校正方法264

19.1 影响系数法264

19.2 基本参数法269

19.3 半基本参数法274

第六篇 能量色散X射线荧光方法的实际应用284

第二十章 矿产资源评价及成矿规律研究284

20.1 金属、非金属矿产地的评价方法284

20.2 在元素分析和矿物学中的应用296

20.3 在矿产资源评价中的应用300

20.4 元素的空间分布及其在地质工作中的意义310

第二十一章 在工业生产中的应用317

21.1 工业产品的成分检验317

21.2 在线分析320

21.3 异形试样的归一化和贵金属成色分析321

21.4 厚度测量325

第二十二章 在其它方面的应用和前景331

22.1 环境样品和生物样品的X射线荧光分析331

22.2 在宝玉石和文物鉴定中的应用333

22.3 X射线荧光方法在元素价态分析中的应用338

22.4 X射线显微术341

结束语345

附录346

附录Ⅰ 普适常数表346

附录Ⅱ φ200分样筛的规格346

附录Ⅲ 元素周期表347

附录Ⅳ 光子的质量衰减系数348

附录Ⅴ 各种化学元素原子壳层的电子组态355

参考文献357