图书介绍
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- 马如璋，徐祖雄主编 著
- 出版社： 北京：冶金工业出版社
- ISBN：7502419950
- 出版时间：1997
- 标注页数：551页
- 文件大小：40MB
- 文件页数：559页
- 主题词：
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图书目录
1绪论1
1.1实验在科学发展中的重要作用1
1.2实验方法的选择2
参考文献15
2核磁共振（NMR）谱学17
2.1概述17
2.2基本原理17
2.3实验方法和新技术24
2.4 NMR在材料科学中的应用28
参考文献49
3正电子湮没技术（PAT）52
3.1 PAT的基础知识52
3.2实验方法62
3.3正电子湮没技术的应用72
3.4正电子素86
3.5结束语88
参考文献88
4原子探针——场离子显微镜（AP—FIM）95
4.1场离子显微术原理96
4.2原子探针（AP）110
4.3AP-FIM的应用122
参考文献132
5卢瑟福背散射谱学137
5.1实验方法及基本设备137
5.2基本原理138
5.3背散射谱的分析方法144
5.4沟道效应151
5.5应用举例155
5.6总结161
参考文献162
6二次离子质谱学164
6.1基本物理过程164
6.2基本装置及实验方法170
6.3 SIMS分析实例176
6.4 SIMS方法的特点和局限性180
参考文献181
7俄歇电子能谱学182
7.1基本原理182
7.2基本装置与实验方法189
7.3应用实例195
参考文献203
8 X射线光电子能谱学204
8.1基本原理204
8.2基本装置205
8.3 XPS谱206
8.4分析方法215
8.5应用217
8.6 XPS与SIMS、AES的特点对比223
参考文献224
9中子活化分析226
9.1概述226
9.2中子活化分析的基本原理229
9.3核蜕变和辐射的探测234
9.4中子活化方法一般应用及实例238
9.5活化技术在材料物理中的应用242
参考文献261
10扰动角关联262
10.1扰动角关联技术262
10.2扰动角关联在材料研究中的应用270
10.3结束语291
参考文献292
11 X射线吸收精细结构（XAFS）谱294
11.1 XAFS原理294
11.2 XAFS理论298
11.3 XAFS实验301
11.4 XAFS数据分析方法306
11.5 XAFS误差分析和国际规范310
11.6 XAFS应用及发展312
参考文献319
12中子散射技术323
12.1概述323
12.2中子的基本性质、中子的产生、中子的探测及其防护324
12.3中子散射的基本原理与方法328
12.4中子散射的基本实验设备简述339
12.5中子散射的应用342
参考文献362
13核反应分析及质子荧光X射线分析364
13.1核反应分析基本原理364
13.2核反应分析技术366
13.3核反应分析应用举例367
13.4核反应分析的特点371
13.5质子X射线荧光分析基本原理372
13.6 PIXE分析技术375
13.7 PIXE的应用378
13.8 PIXE分析的特点380
参考文献381
14分析电子显微镜技术382
14.1概述382
14.2分析电子显微镜基本原理383
14.3 X射线能谱分析（XEDS）393
14.4电子能量损失谱分析的原理和应用418
14.5微区电子衍射433
参考文献443
15激光和同步辐射技术445
15.1激光测试技术445
15.2同步辐射技术450
参考文献456
16穆斯堡尔谱学458
16.1原理458
16.2实验方法及数据处理467
16.3超精细相互作用476
16.4穆斯堡尔效应在材料物理中的应用489
参考文献499
17扫描隧道显微镜（STM）502
17.1概述502
17.2 STM原理及基本理论503
17.3 STM系统简介509
17.4实验方法512
17.5 STM的应用518
参考文献530
附录一534
附录二536
附录三538
编者通讯录539