图书介绍
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- 周晓霞主编 著
- 出版社： 北京：化学工业出版社
- ISBN：9787122028143
- 出版时间：2008
- 标注页数：101页
- 文件大小：41MB
- 文件页数：109页
- 主题词：数字电路－电子技术－实验－高等学校－教材
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图书目录
第1章 数字电子技术实验基本知识1
1．1 数字集成电路的分类及主要参数1
1．2 实验方法概述2
1．3 TTI集成电路与CMOS集成电路的使用规则4
1．4 实验电路的故障检查和排除6
1．5 数字电路的安装与测试技术8
第2章 数字电子技术基本实验10
2．1 实验一：TTL门电路参数测试10
2．2 实验二：门电路及组合逻辑电路的设计14
2．3 实验三：TTL集电极开路门与三态输出门的应用18
2．4 实验四：加法器23
2．5 实验五：数据选择器27
2．6 实验六：触发器的研究31
2．7 实验七：计数器及译码显示电路35
2．8 实验八：移位寄存器39
2．9 实验九：集成定时器44
2．10 实验十：电子秒表49
2．11 实验十一：模数和数模转换54
第3章 数字电子技术参考实验58
3．1 参考实验一：编码器58
3．2 参考实验二：译码器60
3．3 参考实验三：汽车尾灯控制电路设计61
3．4 参考实验四：多路智力竞赛抢答器设计64
第4章 数字电子电路的仿真69
4．1 数字电子仿真实验常用仪表69
4．2 仿真实验基本操作73
4．3 Multisim10．0仿真实例77
4．4 Multisim10．0数字仿真实验83
附录A 我国及部分国际各主要公司TTL集成电路型号命名规则91
附录B 部分逻辑图形符号对照表94
附录C 常用集成芯片引脚96
参考文献101